ST-21L方块电阻测试仪半导体薄层电阻仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

ACL-800重锤数显式表面电阻测试仪ACL静电测是依据EOS/ESD，CECC、ASTM和UL测试规程设计的，用于测量所有导电型、抗静电型及静电泄放型表面的阻抗或电阻。使用容易，高品质，高可靠度，该仪表还可测量影响电性能的相对湿度和温度。可测量阻抗、湿度和温度。

电阻测试仪SPP3笔形电极PP3-CP导电胶环测试线插孔：SPP1直接4mm插孔，SPP2/SPP3配有BNC转2个4mm插孔，适配采用灯笼头测试线的电阻测试仪.

电阻测试仪SPP1/SPP2电极PP3-CRB导电胶套，测试线插孔：SPP1直接4mm插孔，SPP2/SPP3配有BNC转2个4mm插孔，适配采用灯笼头测试线的电阻测试仪。

重锤式静电测试仪19293/770763距离标线，测试点到点电阻时，用于确定2个重锤之间的距离，10~1000VDC击穿测试：击穿电压、击穿前电阻、击穿后电阻、1000VDC耐压测试。